真钱牛牛开户网址

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                首頁    鍍層測厚▂儀    iEDX-150T鍍層測◆厚儀
                150T
                創建時間:2018-05-21 17:00
                瀏覽量:0

                iEDX-150T鍍層測厚儀

                ISP iEDX-150T鍍層測厚儀;
                采用非真【空樣品腔;
                專業用於PCB電鍍』鍍層分析、電路板鍍層膜厚分析測試及鍍層測厚;
                采用多種光譜擬合分析處理技術;
                可同時分析鍍層中的合金成份比列。

                真钱牛牛儀器

                手  機: 18589082047

                電     話 :  0755-23347785

                傳  真: 0755-27205042

                郵    箱: sales@sense.cc

                地  址: 深圳市寶→安區新橋街道沙企社區中心路18號高盛大廈12樓

                 

                 

                應用領域

                 iEDX-150T鍍層測厚儀應用於】金屬電鍍鍍層分※析領域

                 

                技術指標

                多鍍層分析,1~5層

                測試精度:0.001 μm

                元素分析範圍從鋁(Al)到鈾(U)

                測量時間:10~30秒

                SDD探測器,能量分辨率為125±5eV

                探測器Be窗0.5mil(12.7μm)

                微焦X射線管50KV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶)

                6個準直器及多個濾光片自動切換

                 XYZ三□維移動平臺,MAX荷載為5公斤

                 高清CCD攝像頭(200萬像素),準確監控位置

                多變量非線性去卷積曲線擬合

                高性能FP/MLSQ分析

                儀器尺寸:618×525×490mm

                樣品臺◢尺寸:250×220mm

                樣ω 品臺移動範圍:前後左右各80mm、高度90mm

                 

                圖譜界面

                軟件支ぷ持無標樣分析

                超大分析╳平臺和樣品腔

                集成了鍍層界面和合金成分分析界面

                采用多種光譜擬合分析處理技術

                鍍層測厚◥分析精度可達到0.001μm

                 

                分析報告結果

                直接打印分析報告
                報告▆可轉換為PDF,EXCEL格式

                 

                樣品〗分析圖譜:

                 

                150T樣品分析圖譜

                 

                測試結果界面:

                 

                150T測試結果

                 

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