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                關於鍍♀層測厚儀技術特征上的詳細內容講解

                  測試鍍層厚度有專門的檢測儀,電鍍鍍層檢測儀。可能大家對鍍層測厚儀不是很了解,這是檢測分析金屬鍍↙層厚度的儀器設備。目前在市【場上,使用比較多的是X射線(XRF)熒光鍍「層測厚儀,在使用中有喝多優點,不論是測試對象還是測試方法,相對其他類型測厚儀都有優勢。


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                iEDX-150WT鍍層測厚儀




                  一、鍍層測厚儀的特性:

                  若產生X-射線熒光是由於轉∞移一個電子進入K軌道,一個K軌道上的電子已事先被遊離,另一個電子即代替他的地位,此稱之為K輻射。不同的能階轉換出不同的能量,如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道↑的一種輻射,而Kβ輻射是電子從M軌道跳至K軌道的一種輻射,其間是有區別的。若X-射線熒光是一個電子跳入L的空軌域,此種輻射稱為L輻射。同樣的L輻射可劃分為Lα輻射,此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ輻射,此是由N軌道之電子跳入L軌道中。由於Kβ輻射能量約為Kα的11%,而Lβ輻射能量較Lα大約20%,所以以能量的觀點Lα及Lβ是很容易區分的。

                  鍍層測厚儀在開始測試時候最好進行幾次簡單的測試工作,不僅是確保設備的可用性(正常性),同時也檢驗鍍層測厚儀各個接口是否¤符合標準;


                  二、鍍層測厚儀的原理 

                        1、首先對我們要了解XRF如何測量元素成分含量的: 

                         一個元素的成分計算公式可以簡單用下面的公式表示:F?I=C,(這裏C是樣品含量,F是光譜中此元素比例系數,I是此元素在光譜中的激發強度),首先標樣中已知C(此處用百分比表示),將此標樣放入光譜,按著測試條件開X射線激發◎標樣,此時得到一個I的值,C/I=F(這樣就能計算出此元素的含量輕度比列系數)。 

                        之後,待測樣品放〗入光譜,同樣條件用X射線激發樣品,獲得待測@ 樣品的I值,用這個I值乘以之前得到的F值,F?I=C 就能計算出此樣品的含量C的值,這就是XRF測量元素含量的基本原理。 


                        2、鍍層測厚儀膜厚原理: 

                        同理,Th=F?I (這裏Th是厚度,單位微米或其他長度單位) 

                        首先也是用標樣來標定,求出此樣品的某元素鍍層厚度強度比F。 

                        測試待測樣品時,用待測樣品的鍍層元素激發的I值乘以之前得到的F值,F?I=Th這樣就能計算出待測樣品的此元素鍍層厚度值。 


                  以上內容是對鍍層測厚儀技術ξ 特征上面的講解,最後要提醒大家的是所得數據,不能只單看♀一面,要綜合多方面的測試結果,從而合理判斷,其中涉及到數據有MAX值、MIN值、誤差值以及平均值等等。


                首頁    技術文章    關於鍍層測厚儀技術特征上的詳→細內容講解
                創建時間:2018-12-03 17:28
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